Автоматичен спектрален елипсометър тип М2000Д бе доставен в Института по физика на твърдото тяло, съобщават от Българска академия на науките. 

 

За първи път се доставя подобна апаратура в България, уточняват от БАН. Тя ще бъде използва за оптично характеризиране на тънки диелектрични, полупроводникови, метални и органични слоеве, на многослойни структури и на течни образци. 

 

"Елипсометърът позволява да се извършват измервания и да се определят физичните свойства на свръхтънки слоеве с дебелина под 0,1 нм чрез автоматично сканиране на образците", допълват от БАН.

 

Системата бе въведена в експлоатация от Инга Потч, инженер във фирмата доставчик ЛОТ Квантум Дизайн. 

 

Първата презентация на възможностите на апаратурата беше проведена на 27 ноември в Интер Експо Център, София по време на срещата с представители на водещи компании с дейност в областта на индустриалната оптика под наслов "Нанофотоника: нова оптична апаратура в ИФТТ-БАН".

 

Автоматичният спектрален елипсометър е част от оборудването на изграждащия се в момента център по нанотехнологии в Института по физика на твърдото тяло.