Изложение в Париж ще представи новости в нанометрологията

Между 27 и 29 юни т.  г. в Париж ще се проведе четвъртото издание на специализираните изложение и конференция NanoMetrology 2018.

Форумът ще представи напредъка при метрологичните методи и средства, свързани с нанонауката и нанотехнологиите. Събитието ще постави фокус върху теорeтичните и експериментални аспекти на метрологията в нанометричен мащаб, новите методологии за количествена характеристика на наноматериалите, актуалните резултати в областта на характеризирането на наноматериалите и реализацията на нанометрологични стандарти, които представляват ключов въпрос за постигането на успешен технологичен трансфер на нанотехнологиите.

Събитието цели да предостави възможности на представители на академичната общност, научноизследователските организации и бизнеса в този сектор да обменят информация за нови методи, техники и измервателни средства в сферата на нанометрологията, както и да се запознаят с най-актуалните продукти на пазара при наносистемите и устройствата.