Hitachi High-Technologies Corporation обяви, че е разработила нов трансмисионен електронен микроскоп (TEM) със студена емисия HF5000 с максимално ускоряващо напрежение от 200 kV и с вграден коректор на сферичната аберация.

 

HF5000 е нов 200kV TEM, в който се съчетават технологиите на Hitachi High-Tech, прилагани в трансмисионните и в сканиращите трансмисионни електронни микроскопи. По този начин се постига пространствена разрешаваща способност до части от ангстрьома (по-малко от 0,1 nm). По план новият електронен микроскоп трябва да постъпи в продажба през октомври 2015 г.

 

В HF5000 са заимствани решения от специализирания СТЕМ HD-2700 на Hitachi High-Tech като вградения коректор на сферичната аберация, автоматичната функция за изчисляване на тази корекция и формирането на изображението с точност до атом чрез използване на вторичната електронна емисия. Заедно с това се използват и технологиите от ТЕМ, разработени в гамата HF. 

 

Внедряването на разработените от Hitachi High-Tech технологии за електронна микроскопия в тази нова усъвършенствана платформа на обединява предимствата, произтичащи от корекцията на аберацията и възможностите на високочувствителния анализ, като по този начин в HF5000 могат да се прилагат множество методи за наблюдение.

 

С разработката на новия 200 kV трансмисионен електронен микроскоп със студена емисия HF5000 Hitachi High-Tech се стреми да предложи изображения с разрешаваща способност до части от ангстрьома и да осигури високочувствителен анализ чрез широк спектър от методи за наблюдение. Това ще отговори на изискванията на широк кръг от потребители, включително и във високоспециализирани сфери. Доставките на HF5000 са планирани за втората половина на 2015 г.