Лабораторна система за безразрушителен елементен анализ EX-660
сподели статията
Xenemetrix разработва високо иновативни технологии и решения, подходящи за днешните все по-нарастващите аналитични нужди, за извършване на елементен анализ, започвайки от C(6) - Fm(100).
Безразрушителен елементен анализ C(6) - Fm(100) от суб-ppm до 100% концентрации.
Silicon Drift Detector (SDD) поддържа изключително висок динамичен интервал с висока резолюция, подходящ както за високи, така и за ниски Z елементи.
Опционално: SDD LE с тънък полимерен прозорец за по-ефективен анализ на леките елементи.
Осем адаптивни филтри и осем вторични мишени улесняват бързото и точно определяне и на много малки концентрации на елементите.